TARAMALI ELEKTRON MİKROSKOBU (SEM)
Elektron demeti yardımıyla örnekten görüntü almaya yarar.
Marka / Model : Zeiss / Gemini 300 - EDS : Bruker / XFlash 6I100
Dedektörler : ETD (Everhart Thornley Dedektör), BSED, In-Lens SE, In-Lens BSE, EDS, Düşük Vakum SE Dedektör
Numune Odası İç Çapı : 340 mm
Vakum : Yüksek Vakum – Düşük Vakum
Elektron Tabancası : Scottky FEG Tabancası
Yapılan Analizler : Seramik, metal, polimer, kompozit, nanomalzeme ve biyolojik malzeme gibi örneklerin mikroyapı analizi yapılabilir.
X-IŞINLARI DİFRAKTOMETRESİ (XRD)
X-Işınları yardımıyla numunenin kristal yapısı hakkında bilgi edinilmesini sağlar.
Marka / Model : Bruker / D8 Advance
X-Işını Tüpü : 1,8 Kw gücünde bakır anodlu
Tarama Açısı Aralığı (2Ɵ) : 5° ile 150° arasında
Gonyometre Çapı : 480 mm
Yapılan Analizler : Toz, bulk ve film numunelerinde faz tanımlaması, faz miktarı, stres analizi, kristalinite derecesi ve kristalit boyut tayini yapılabilir.
ATOMİK KUVVET MİKROSKOBU (AFM)
İğne uç ile numune yüzeyi arasındaki etkileşimler yardımıyla yüzey topografisinin; üç boyutlu, nano boyutta ve yüksek çözünürlüklü olarak ölçülmesini sağlar.
Marka / Model : Nanosurf / Flex AFM
Çalışma Ortamı : Hava ve sıvı
Maksimum Tarama Alanı : 100 x 100 µm
Tarama Modları : Dinamik Kuvvet, Statik Kuvvet, Manyetik Kuvvet, Kelvin Probe Kuvvet, Çoklu Spektroskopi Modları, Litografi, Faz Farklılıkları, Temassız
TEMAS AÇISI ÖLÇÜM CİHAZI
Temas açısı, dinamik temas açısı, yüzey gerilimi değerlerini ölçmeye yarar. Topografya modülü ile 3D yüzey pürüzlülüğü hakkında bilgi verir.
Marka / Model : Biolin Scientific Attension Theta Flex
Temas Açısı Ölçüm Aralığı : 0-180°
Temas Açısı Ölçüm Hassasiyeti : ± 0.1°
Yüzey Gerilimi Ölçüm Aralığı : 0.01 – 2000 mN/m
Yüzey Gerilimi Ölçüm Hassasiyeti : ± 0.01 mN/m
Maksimum Çözünürlük : 1984 x 1264 piksel
Numune Tipi ve Boyutu : Pelet veya ince film, sınırsız x 100 × 320 mm
UPRIGHT (ARAŞTIRMA) MİKROSKOBU
Floresan lambası sayesinde hücre skorlama yapabilmektedir.
Marka / Model : Carl Zeiss / Axio Scope A1
Cihaz Özellikleri :
Floresan, faz&kontrast, karanlık alan ve aydınlık alan gözlemleme özelliği
100W HG Floresan aydınlatma lambası
5X – 100X büyütme
12Volt 100Watt halojen aydınlatma kaynağı
Komet yazılımı sayesinde hücre skorlama özelliği
INVERTED (ARAŞTIRMA) MİKROSKOBU
Ters tipteki mikroskop metalürjik analizler için uygun olup numunelerin elementel kontrastlarını görüntülemeye yarar.
Marka / Model : Carl Zeiss / Axio Vert A1
Cihaz Özellikleri :
Polarize ışık, aydınlık alan ve karanlık alan gözlemleme özelliği
5X – 100X büyütme
12Volt 100Watt halojen aydınlatma kaynağı
X ve Z eksenlerinde çoklu fotoğraf birleştirme özelliği
STEREO MİKROSKOP
Küçük nesnelerin eşzamanlı büyütmede 3D görüntülerinin alınmasını sağlar.
Marka / Model : Carl Zeiss / Discovery V12
Cihaz Özellikleri :
8X – 100X büyütme
12Volt 100Watt halojen aydınlatma kaynağı
X ve Z eksenlerinde çoklu fotoğraf birleştirme özelliği
PARÇACIK BOYUTU ANALİZ CİHAZI
Tanelerin büyüklüğü ile ışınların kırılma açısı arasındaki ters orantı ilişkiyi esas alan cihaz ile seramikler, toz metalürji, mineral prosesleri, toz yiyecek gıda, mürekkepler gibi ürünlerin tanecik boyutları ölçülebilmektedir.
Marka / Model : Malvern - Mastersizer 3000E
Ölçülebilen parçacık boyut aralığı : 0,1 µm ile 1000 µm arası
Ölçülebilen örnekler : Sıvı içerisinde dağıtılmış katılar ve kolloidler, emülsiyonlar, kuru toz kütleleri
DİNAMİK GÖRÜNTÜLEME ANALİZ CİHAZI
Mikro ve milimetre aralığında kuru tozların partikül boyutu ve şekli bilgisi sunar.
Marka / Model: Anton Paar/ Litesizer DIA500
Ölçülebilen parçacık boyut aralığı: 0,8 µm ile 4000 µm arası
Ölçülebilen örnekler: Katılar ve kuru toz kütleleri
SEM NUMUNE KAPLAMA CİHAZI
İletken olmayan numunelerin istenen kalınlıkta kaplanarak iletken hale gelmesini sağlar.
Marka / Model : Leica / ACE600
Cihaz Özellikleri:
Altın/Paladyum (Au/Pd) veya Karbon (C) kaplama
